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一种便于检测SD卡测试卡座焊接不良的电路 

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申请/专利权人:深圳市梁信科技有限公司

摘要:本实用新型公开了一种便于检测SD卡测试卡座焊接不良的电路,包括供电模块、指示模块,供电模块与测试卡座的电源引脚连接,供电模块用于向测试卡座中的测试SD卡供电;指示模块多个指示器,指示器与测试卡座的数据引脚、控制引脚和时钟引脚一一对应,且指示器一端与测试卡座对应引脚连接,指示器的另一端均与测试卡座的接地引脚连接,指示器通电后状态发生变化用于指示测试卡座对应引脚焊接正常。本实用新型通过指示器的状态反应测试卡座的引脚焊接情况,一方面电路结构简单,便于生产制造,另一方面,不需要进行读卡,可以快速判断卡座引脚是否断开,方便使用,再一方面可以适用不同的测试卡座,适用范围较大。

主权项:1.一种便于检测SD卡测试卡座焊接不良的电路,其特征在于,包括:供电模块,所述供电模块与测试卡座的电源引脚连接,所述供电模块用于向测试卡座中的测试SD卡供电;指示模块,所述指示模块多个指示器,所述指示器与测试卡座的数据引脚、控制引脚和时钟引脚一一对应,且所述指示器一端与测试卡座对应引脚连接,所述指示器的另一端均与测试卡座的接地引脚连接,所述指示器通电后状态发生变化用于指示测试卡座对应引脚焊接正常。

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