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一种Pr离子荧光测温方法 

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申请/专利权人:中国民航大学

摘要:本发明涉及荧光测温领域,公开一种Pr离子荧光测温方法,基于荧光强度比进行测温,传感材料为NaLuF4:Pr或NaLuF4:YbPr微米晶体,采用脉冲光激发,测温范围为303K‑573K。提升Pr离子荧光强度比测温的准确性和灵敏度。镧系元素的荧光强度比测温技术具有高空间分辨率和测温精度,可作为新兴的温度传感器的测温材料。Pr离子具有丰富的发光能级,是优异的荧光测温候选离子之一。本发明公开NaLuF4:Pr、NaLuF4:YbPr微米棒,展示了通过激发波长控制提升测温灵敏度的方法,进一步地,通过调控激发时长有效避免自升温影响。

主权项:1.一种Pr离子荧光测温方法,基于荧光强度比进行测温,其特征在于,传感材料为NaLuF4:Pr或NaLuF4:YbPr微米晶体,采用脉冲光激发,测温范围为303K-573K。

全文数据:

权利要求:

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