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申请/专利权人：扬州群发光芯科技有限公司;扬州群发换热器有限公司
摘要：本发明公开了一种适用于OPA芯片端面检测测试机，涉及激光芯片性能测试技术领域。本发明只需要将OPA芯片安装在支架上，就能够对OPA芯片的多个性能指标进行测试，且测试过程无需人工干预；能够将OPA测试环境中的空气抽离，减少空气分子以及空气中的灰尘对测试结果造成的影响，提升OPA芯片性能测试的准确性；仅需要控制调节电缸带动可调反光镜摆动，就能够对OPA芯片的近场、远场发散角进行测量，并且通过多片反射镜的布置，能够有效的减少测试机的整体尺寸，使得整体更加小巧，节约占地面积。
主权项：1.一种适用于OPA芯片端面检测测试机，其特征在于：包括支撑部，支撑部包括设置在第一侧面板（101）和第二侧面板（104）之间的第一反射镜（105）、第二反射镜（106）、第三反射镜（107）、第四反射镜（108）、第五反射镜（109）、第六反射镜（110）和第七反射镜（111）；第一侧面板（101）和第二侧面板（104）之间固定安装有测量室（112），测量室（112）上配设有准直透镜（5），准直透镜（5）的侧方且位于第一反射镜（105）的下方设置有测量部；测量部包括可调反光镜（401），可调反光镜（401）能够将OPA芯片（7）发出的光线反射到第一反射镜（105）上，可调反光镜（401）的背面固定安装有双向丝杆安装架（404），双向丝杆安装架（404）上转动安装有两个平行设置的双向丝杆（403），可调反光镜（401）的正面滑动配设有两个对称布置的测量刀片（402），两个测量刀片（402）与双向丝杆（403）的两端螺纹配合，测量室（112）的内侧面位于准直透镜（5）的一侧配设有感光传感器（6），用于观测OPA芯片（7）表面是否存在瑕疵。
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