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申请/专利权人：浪潮电子信息产业股份有限公司

摘要：本发明公开了一种硬件系统的可靠性分析方法、设备、程序产品及存储介质，属于系统可靠性分析领域，用于结合故障树、马尔科夫过程模型以及仿真法对硬件系统进行可靠性分析，解决了难以兼顾分析精度与分析效率的问题。首先获取待测硬件系统的故障树，接着根据老化过程之间的依赖关系，将待测硬件系统各老化过程的可靠性模型划分得到第一模型组，由于通过分段确定的马尔科夫过程模型可确定出：第一模型组内的非核心可靠性模型所属老化过程在组内的核心可靠性模型所属老化过程的不同状态下的状态转移参数，从而实现了对统计上不独立的基本事件的分析，而且故障树分析法与仿真法的结合，可以兼顾分析精度与分析效率。

主权项：1.一种硬件系统的可靠性分析方法，其特征在于，包括：获取待测硬件系统的故障树，所述故障树根据所述待测硬件系统的结构信息以及引发系统失效的基本事件生成；针对作为所述基本事件的成因的任一老化过程，构建所述老化过程对应的可靠性模型；根据所述老化过程之间的依赖关系，对构建的各个可靠性模型进行分组，确定出第一模型组，其中，第一模型组中包括核心可靠性模型与非核心可靠性模型，核心可靠性模型所属老化过程对非核心可靠性模型所属老化过程存在影响；对于任一所述第一模型组，确定出在所述第一模型组内的核心可靠性模型的任一个非完全失效状态下，所述第一模型组内的各个非核心可靠性模型所属老化过程的状态转移参数，其中，核心可靠性模型所属的老化过程包括完全失效状态以及多个非完全失效状态；基于所述待测硬件系统的故障树以及各个所述可靠性模型所属老化过程的状态转移参数，对所述待测硬件系统进行失效过程的随机仿真，得到所述待测硬件系统关于预设的可靠性分析指标的分析结果；针对作为所述基本事件的成因的任一老化过程，构建所述老化过程对应的可靠性模型包括：针对任一所述基本事件，确定出作为所述基本事件的成因的各个老化过程，老化过程的类型包括基于物理过程进行老化的第一类老化过程以及基于马尔科夫过程进行老化的第二类老化过程；针对确定出的任一所述第一类老化过程，为所述第一类老化过程构建第一类可靠性模型；针对确定出的任一所述第二类老化过程，为所述第二类老化过程构建第二类可靠性模型，所述第二类可靠性模型至少包括完好与完全失效两个状态；根据所述老化过程之间的依赖关系，对构建的各个可靠性模型进行分组，确定出第一模型组包括：对于任一所述第二类可靠性模型，若所述第二类可靠性模型的老化过程对其他老化过程存在影响，则以所述第二类可靠性模型为核心构建一个第一模型组；对于任一待分组的可靠性模型，若所述待分组的可靠性模型的老化过程受其他老化过程的影响，则将所述待分组的可靠性模型加入以目标可靠性模型为核心的第一模型组，其中，所述目标可靠性模型为：老化过程对所述待分组的可靠性模型的老化过程存在影响的第二类可靠性模型；针对确定出的任一所述第一类老化过程，为所述第一类老化过程构建第一类可靠性模型包括：针对确定出的任一所述第一类老化过程，为所述第一类老化过程构建连续老化变量、连续老化变量的与时间相关的老化物理方程以及基于老化物理方程的取值的状态判定条件；针对确定出的任一所述第二类老化过程，为所述第二类老化过程构建第二类可靠性模型包括：针对确定出的任一所述第二类老化过程，为所述第二类老化过程构建多状态变量，并确定出所述多状态变量的有限状态集以及状态转移率；其中，有限状态集包括所述多状态变量所属老化过程理论上可出现的各个状态，状态转移率包括所述有限状态集中老化程度低的状态向老化程度高的状态跳转的概率，所述第二类老化过程的状态转移参数为所述状态转移率。

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