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申请/专利权人：哈尔滨工业大学

摘要：本发明属于航天等离子体推进领域，提供一种多通道霍尔推进器推力分布在轨光学监测方法。步骤1：当多通道霍尔推进器在设定工况下正常运行时，机械臂控制成像监测装置获取正对的多通道霍尔推进器的成像；步骤2：基于成像，利用谱线比方法计算等离子不同放电通道出口处的离子密度分布；步骤3：利用离子密度分布计算不同通道产生的推力并合成总推力，与设定工况下设定推力进行对比；步骤4：根据比对结果，判断是否调整工况，直至计算推力与设定推力一致。用以解决不同放电通道之间的电离状态不同，导致放电通道间的等离子体密度不同，最终导致离子喷出后推进器产生的推力失衡的问题。

主权项：1.一种多通道霍尔推进器推力分布在轨光学监测方法，其特征在于，所述推力分布在轨光学监测方法具体包括以下步骤：步骤1：当多通道霍尔推进器在设定工况下正常运行时，机械臂205控制成像监测装置204获取正对的多通道霍尔推进器203的成像；步骤2：基于步骤1的成像，利用谱线比方法计算等离子不同放电通道103出口处的离子密度分布；步骤3：利用步骤2的离子密度分布计算不同通道产生的推力并合成总推力，与设定工况下设定推力进行对比；步骤4：根据步骤3的比对结果，判断是否调整工况，直至计算推力与设定推力一致；所述步骤2具体为，使用碰撞辐射模型计算出不同离子密度下的工质气体的理论光谱，并通过最小二乘拟合计算出谱线比与离子密度的关系；所述使用碰撞辐射模型计算出不同离子密度下的工质气体的理论光谱具体为， 其中，I828、I881、I541、I529分别代表不同波长下的理论光谱，ni_R代表径向离子密度，Te_R代表径向电子温度，A1代表I828光谱强度与离子密度和电子温度函数的第一项系数，B1代表I828光谱强度与离子密度和电子温度函数的第二项系数，C1代表I828光谱强度与离子密度和电子温度函数的第三项系数，D1代表I828光谱强度与离子密度和电子温度函数的第四项系数；A2代表I881光谱强度与离子密度和电子温度函数的第一项系数，B2代表I881光谱强度与离子密度和电子温度函数的第二项系数，C2代表I881光谱强度与离子密度和电子温度函数的第三项系数，D2代表I881光谱强度与离子密度和电子温度函数的第四项系数，E2代表I881光谱强度与离子密度和电子温度函数的第五项系数，F2代表I881光谱强度与离子密度和电子温度函数的第六项系数，G2代表I881光谱强度与离子密度和电子温度函数的第七项系数；A3代表I541光谱强度与离子密度和电子温度函数的第一项系数，B3代表I541光谱强度与离子密度和电子温度函数的第二项系数，C3代表I541光谱强度与离子密度和电子温度函数的第三项系数，D3代表I541光谱强度与离子密度和电子温度函数的第四项系数，E3代表I541光谱强度与离子密度和电子温度函数的第五项系数，F3代表I541光谱强度与离子密度和电子温度函数的第六项系数，G3代表I541光谱强度与离子密度和电子温度函数的第七项系数；A4代表I529光谱强度与离子密度和电子温度函数的第一项系数，B4代表I529光谱强度与离子密度和电子温度函数的第二项系数，C4代表I529光谱强度与离子密度和电子温度函数的第三项系数，D4代表I529光谱强度与离子密度和电子温度函数的第四项系数，E4代表I529光谱强度与离子密度和电子温度函数的第五项系数，F4代表I529光谱强度与离子密度和电子温度函数的第六项系数，G4代表I529光谱强度与离子密度和电子温度函数的第七项系数。

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百度查询： 哈尔滨工业大学 多通道霍尔推进器推力分布在轨光学监测方法