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申请/专利权人：电子科技大学
摘要：本发明提供一种光窗电磁屏蔽效能原位测试装置及方法，属于电磁性能测试技术领域。该装置基于介质谐振器，利用介质谐振器储能与耗能的关系测量出光窗内部导电网栅的等效微波表面电阻，进而计算出导电网栅的等效电导率，根据电导率与电磁屏蔽效能的关系获得光窗的电磁屏蔽效能。该装置能够在单侧加载传感器且不接触导电网栅的情况下实现光窗屏蔽效能的无损测试，为服役条件下光窗的维护保养提供重要的技术支撑。
主权项：1.一种光窗电磁屏蔽效能原位测试装置，其特征在于，包括网络分析仪、处理器和传感器，所述传感器包括同轴接头、金属底座、支撑圆环、金属侧壁、圆柱介质和保护罩；所述金属底座为金属圆柱，其中心设置圆形凹槽，所述圆形凹槽内设置支撑圆环，支撑圆环的高度大于圆形凹槽深度，支撑圆环靠近金属底座一侧内设置两个圆孔，金属底座与圆孔对应位置处设置两个通孔，用于将同轴接头经通孔放置于圆孔内，且不与圆孔底部接触；圆柱介质的底部紧贴支撑圆环设置，且位于支撑圆环中心，金属侧壁用于为圆柱介质提供边界条件，内壁与圆柱介质贴合，外壁与金属底座外壁齐平，下端部与金属底座和支撑圆环贴合，上端部圆柱介质齐平；所述保护罩为凹槽状，圆柱介质的顶部与保护罩凹槽内部贴合，保护罩的两侧壁与金属侧壁的外壁贴合；在保护罩两侧设置螺孔，用于固定保护罩、金属底座和金属侧壁；所述网络分析仪通过通信电缆与同轴接头连接，网络分析仪用于提供电磁激励信号，通过同轴接头在圆柱介质内产生谐振；所述处理器和网络分析仪通过数据线连接，用于接收测试数据并进行处理。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 电子科技大学 一种光窗电磁屏蔽效能原位测试装置及测试方法
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