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一种基于UVM的高精度时戳验证方法 

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申请/专利权人:芯河半导体科技(无锡)有限公司

摘要:本发明提出了一种基于UVM的高精度时戳验证方法,通过构建高精度时戳验证方法,实现了兼容1588各类节点OCBCTC的各种时戳报文类型的精度验证,验证时戳精度可达ns级,可覆盖验证绝大多数相关产品的此类功能;模块化的组件设计方便移植,架构清晰,拥有较高的移植性和重用性,大大提高了验证工作效率。

主权项:1.一种基于UVM的高精度时戳验证方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:S1发包组件产生以太网帧,将产生的以太网帧送给填充组件;S2填充组件感知报文类型,收到发包组件产生的以太网帧,修改帧部分内容标记其为时戳帧,根据需求产生时戳随路信息,将时戳相关信息压入队列中,完成替换后的数据送给驱动组件中;S3驱动组件根据接口总线位宽将时戳帧和非时戳帧进行切片后,在反压信号和对应时隙有效时驱动到DUT;同时配置DUT所需寄存器,硬复位解复位后依次配置相关寄存器,解软复位,完成配置流程;S4解析组件接收到DUT环回数据后,将切片报文重组以太网帧,根据帧内部标记识别出时戳帧,并送入校验组件;S5校验组件接收到解析组件送入的时戳帧,根据不同的报文类型,提取相应时戳信息,计算时戳精度。

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