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申请/专利权人：株式会社理学
摘要：本发明提供一种通过抑制对系统大小的制约的方法来计算理论散射强度散射测量分析方法、散射测量装置、及信息存储介质。所述散射测量分析方法包括从多粒子系散射体的结构模型取得理论散射强度的理论散射强度取得步骤，在所述理论散射强度取得步骤中，通过第1计算、第2计算中与距离r对应的至少一者取得多个散射体中散射体m和与该散射体m距离r的散射体n的组合对所述理论散射强度的贡献，所述第1计算根据各自的散射因子fmq、fn*q及中心间距离rmn计算散射体m和散射体n的贡献，所述第2计算由第1代表值代替所述散射体n的散射因子fn*q并且由固定值代替距离r处存在的散射体数量的概率密度函数。
主权项：1.一种散射测量分析方法，其特征在于，包括从多粒子系散射体的结构模型取得理论散射强度Iq的理论散射强度取得步骤，在所述理论散射强度取得步骤中，根据第1计算和第2计算取得多个散射体中散射体m和与该散射体m距离r的散射体n的组合对所述理论散射强度的贡献，所述第1计算根据各自的散射因子fmq、fn*q及中心间距离rmn计算散射体m和散射体n的贡献，通过以下式1表示， [式1]所述第2计算由散射因子fn*q的平均值fave*q代替所述散射体n的散射因子fn*q并且使用所述结构模型的每单位体积的平均粒子数ρa进行计算，通过以下式2表示， [式2]根据所述第1计算的计算结果和所述第2计算的计算结果取得所述理论散射强度Iq，当所述距离r小于固定的值R时，根据所述第1计算取得对所述理论散射强度Iq的贡献，当所述距离r为所述固定的值R以上时，根据所述第2计算取得对所述理论散射强度Iq的贡献，通过对所述第1计算的计算结果和所述第2计算的计算结果求和来取得所述理论散射强度Iq，其中，Iq表示理论散射强度，fmq表示散射体m的散射因子，fn*q表示散射体n的散射因子，q表示入射波和出射波各自的波数矢量之差的大小，rmn表示散射体m与散射体n的中心间距离，N表示散射体的个数，faveq表示散射因子fmq的平均值，fave*q表示散射因子fn*q的平均值，ρa表示结构模型的每单位体积的平均粒子数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社理学 散射测量分析方法、散射测量分析装置及信息存储介质
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