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电路性能指标的仿真计算方法、装置、电子设备及介质 

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申请/专利权人:贝叶斯电子科技(绍兴)有限公司;杭州四维映射软件有限公司

摘要:本发明公开了电路性能指标的仿真计算方法、装置、电子设备及介质,该方法包括:获取第一文件信息、第二文件信息和第三文件信息,第一文件信息包括指定分析,第二文件信息包括所需计算的性能指标、性能指标的计算表达式以及用于辅助的输出指令;解析获取的第一文件,构建求解矩阵,并将求解矩阵保存于内存中;解析第二文件,构建指标符号表,并将指标符号表存储于内存中;根据第一文件信息中声明的指定分析,调用内存中的求解矩阵,进行仿真计算,计算获得的波形数据存储于内存;调用内存中的波形数据、指标符号表,计算性能指标;利用第三文件信息对指标进行校验或分类。其可避免多次硬盘读写操作,在计算效率方面有了极大地提高。

主权项:1.电路性能指标的仿真计算方法,其特征在于,包括:获取第一文件信息,所述第一文件信息包括待分析电路的元器件连接关系、电路设计参数以及所需进行的指定分析;解析获取的所述第一文件信息,构建进行所述指定分析所需的求解矩阵,并将所述求解矩阵保存于内存之中;根据所述第一文件信息中声明的所述指定分析,直接调用所述内存中的所述求解矩阵,对所述待分析电路进行仿真计算,并将计算获得的波形数据存储于所述内存之中;其中,所述波形数据用于配合存储于内存中的指标符号表以计算待分析电路的性能指标;所述指标符号表根据第二文件信息构建,所述第二文件信息包括:对所述待分析电路所需计算的性能指标、所述性能指标的计算表达式以及用于辅助的输出指令。

全文数据:

权利要求:

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