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一种超导磁体室温加工尺寸和位置的获取方法 

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申请/专利权人:华中科技大学

摘要:本申请属于超导磁体技术领域,具体公开了一种超导磁体室温加工尺寸和位置的获取方法,S100:以超导线室温尺寸进行超导线圈电磁设计,获得励磁后超导线圈尺寸和位置;S201‑S202:以S100算得数据设计骨架,对磁体加载历史力学分析,提取超导线圈尺寸和位置变化以及励磁后超导线尺寸;S300:以获得的数据更新S100;S400:以步骤S202、S300等的数据反推步骤S300中励磁后超导线圈对应的绕制前超导线圈尺寸和位置;S500:对步骤S400的成果做力学分析,获得励磁后超导线圈尺寸和位置;S600:对步骤S300和步骤S500的励磁后超导线圈尺寸和位置的误差与容差比较,进行S300‑S500的数据迭代,确定超导磁体的室温加工尺寸。本申请能够降低超导线的尺寸、超导线圈尺寸和位置变化对磁场均匀度的影响。

主权项:1.一种超导磁体室温加工尺寸和位置的获取方法,其特征在于,包括以下步骤:S100:根据超导线的室温尺寸进行超导线圈电磁设计,获得励磁后超导线圈的尺寸和位置;S201:根据励磁后超导线圈的尺寸和位置设计对应的骨架,以该设计为基础,对超导线圈和骨架进行绕制、冷却和励磁三个过程的应力和应变分析,判断磁体结构是否满足设计要求,如满足则进行下一步,否则回到步骤S100重新进行超导线圈电磁设计;S202:获得绕制、冷却和励磁后超导线圈的形变,以此推算获得励磁后超导线的尺寸;S300:根据获得的所述励磁后超导线尺寸重新进行超导线圈电磁设计;S400:根据获得的励磁后超导线圈的形变、步骤S300获得的新的电磁设计以及超导线的室温尺寸反推得到步骤S300中励磁后超导线圈对应的绕制前超导线圈尺寸和位置;S500:对步骤S400获得的超导线圈室温尺寸和位置进行力学分析,获得绕制、冷却和励磁后的超导线圈尺寸和位置;S600:判断步骤S300和步骤S500的励磁后超导线圈尺寸和位置的误差是否小于容差,若是,则确认最终超导磁体的室温加工尺寸;若否,则提取步骤S500的励磁后超导线圈的形变,以步骤S500获得的励磁后超导线尺寸作为新的尺寸,重复步骤S300-S500,直至满足条件;所述步骤S100包括:S110:对预布置线圈区域进行二维网格剖分,并对DSV表面和杂散场约束圆柱体表面进行均匀目标点剖分;S120:根据二维网格和目标点的坐标,获得网格电流环在目标点处产生的磁场;S130:根据网格体积和0-1变量,建立以所有导体体积为最小的目标函数;S140:根据目标函数和约束条件建立线性规划数学模型;S150:对所述线性规划数学模型进行求解获得非零电流分布图,建立非线性规划数学模型,将非零电流分布图中的非零电流簇转换成矩形螺线管线圈。

全文数据:

权利要求:

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