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申请/专利权人：深圳米客方德半导体有限公司

摘要：本发明涉及数据回溯技术领域，揭露了基于LDPC纠错算法实现电子产品的数据回溯方法及系统，包括：获取待回溯的电子产品，查询其对应的Flash数据，去除其中的敏感源后，计算对应的脱敏值，提取产品配置信息中特征参数，查询对应的配置变量，定位其中的选项变量，计算特征参数与选项变量的特征关联度后，生成对应的配置参数表，识别错误记录日志，堆栈跟踪其中错误代码的错误路径，查询生产过程记录后，绘制时间序列图，提取所述时间序列图中的生产回溯数据，基于配置参数表、错误路径以及生产回溯数据，构建产品数据回溯模型，查询其中LDPC码后，构建对应的稀疏校验矩阵后，对电子产品进行数据回溯，数据回溯结果。本发明在于提高电子产品数据回溯的效率。

主权项：1.一种基于LDPC纠错算法实现电子产品的数据回溯方法，其特征在于，所述方法包括：获取待回溯的电子产品，查询所述电子产品对应的Flash数据，识别所述Flash数据的数据渠道，确定所述数据渠道中的目标数源，去除所述目标数源中的敏感源后，计算目标数源对应的脱敏值；基于所述脱敏值，查询所述电子产品对应的回溯目标，所述回溯目标包括：产品配置信息、错误记录日志以及生产过程记录；提取所述产品配置信息中特征参数，查询所述特征参数对应的配置变量，定位所配置变量中的选项变量，计算所述特征参数与所述选项变量的特征关联度，基于所述特征关联度，生成所述产品配置信息对应的配置参数表；识别所述错误记录日志中不同的日志级别，查找所述日志级别对应的错误类型，基于所述错误类型，定位所述错误记录日志中的错误代码，对所述错误代码进行堆栈跟踪，得到所述错误代码的错误路径；查询所述生产过程记录中时间数源，识别所述时间数源对应的数源序列，对所述数源序列进行时间排序，基于排序后的数源序列，绘制所述生产过程记录的时间序列图，提取所述时间序列图中的生产回溯数据；基于所述配置参数表、所述错误路径以及所述生产回溯数据，构建产品数据回溯模型，查询所述产品数据回溯模型中的LDPC码，利用所述LDPC码生成所述电子产品对应的校验位，基于所述校验位，构建所述电子产品对应的稀疏校验矩阵，利用所述稀疏校验矩阵对所述电子产品进行数据回溯，得到所述电子产品的数据回溯结果。

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