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一种紫外光和可见光双波段光电探测器及其制备方法 

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申请/专利权人:天津理工大学

摘要:本发明公开了一种紫外光和可见光双波段光电探测器及其制备方法,本发明在N型GaAs衬底上依次生长N型GaAs缓冲层、N型AlGaAs背面空穴阻挡层、非故意掺杂GaAs吸收层、P型AlGaAs窗口层和P型GaAs接触层,并在探测器上沉积GaO薄膜。本发明能够共用检测电极不会影响电流的正常流动,从而实现共用光入射窗口和检测电极,在成本、集成度和焦平面拓展等方面具有更高的商用价值。

主权项:1.一种紫外光和可见光双波段光电探测器的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一,利用MOCVD或者MBE的沉积方式在N型GaAs衬底上依次生长N型GaAs缓冲层、N型AlGaAs背面空穴阻挡层、非故意掺杂GaAs吸收层、P型AlGaAs窗口层和P型GaAs接触层;步骤二,在P型GaAs接触层的上表面涂抹光刻胶,以形成GaAs欧姆接触图形,在剩余未涂抹光刻胶的P型GaAs接触层的上表面,利用选择性湿法刻蚀向下腐蚀,腐蚀停止在P型AlGaAs窗口层的上表面,刻蚀完成后去除光刻胶,形成GaAs欧姆接触图形;步骤三,利用光刻胶在GaAs欧姆接触图形上形成P金属图形,利用电子束蒸发或者磁控溅射在P金属图形上蒸镀金属并进行金属剥离,退火,得到P金属电极,P金属电极的上表面的接触为欧姆接触;步骤四,在AlGaAs窗口层上表面,以及P金属电极的上表面涂抹光刻胶,形成Mesa图形,在未涂抹光刻胶的区域,利用干法刻蚀或湿法刻蚀,从AlGaAs窗口层上表面向下腐蚀,腐蚀停止在N型GaAs缓冲层的内部,腐蚀完成后,去除光刻胶,形成Mesa凸台区域;步骤五,利用旋涂的方法在所述Mesa凸台区域的顶部的外缘涂抹一圈PBO或BCB光敏环氧树脂材料,以及其外侧面和底部外缘涂抹PBO或BCB光敏环氧树脂材料,在所有PBO或BCB光敏环氧树脂材料的外表面利用光刻法进行曝光和显影,形成PBO或BCB环氧树脂图形,对环氧树脂图形进行固化处理,形成对Mesa凸台侧壁的钝化保护;步骤六,在所述N型GaAs衬底的背面进行减薄和抛光;步骤七,利用磁控溅射的方法在所述N型GaAs衬底的背面淀积GaO薄膜;步骤八,利用PECVD、磁控溅射、电子束蒸发或者热蒸发的方法在所述GaO表面淀积多层减反膜;步骤九,利用光刻胶在最底层的减反膜的表面形成VIA孔洞图形,利用刻蚀的方法去除VIA孔洞图形上方的多层减反膜,使得GaO薄膜暴露出来,刻蚀完成后去除光刻胶,在GaO薄膜表面形成金属接触,得到VIA孔洞;步骤十,利用光刻胶在所述VIA孔洞上形成N金属图形,利用电子束蒸发或者磁控溅射蒸镀金属并进行金属剥离、退火,得到N金属电极,N金属电极与GaO薄膜的接触为欧姆接触。

全文数据:

权利要求:

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