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一种存储单元选定电路、阵列、芯片及擦除校验方法 

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申请/专利权人:上海芯存天下电子科技有限公司

摘要:本申请涉及存储芯片技术领域,具体公开了一种存储单元选定电路、阵列、芯片及擦除校验方法,该电路包括:多个存储单元,所有存储单元的漏极均通过一个主开关与第一位线的输入端连接,所有存储单元的源极均与公共接地端连接;比较器,其包括第一输入端和第二输入端,第一输入端通过第一位线与目标存储单元的漏极连接,第二输入端与校验电流连接;控制器,与比较器的输出端连接,用于根据比较器的输出判断目标存储单元是否擦除到位;该电路能够有效地避免出现目标存储单元以外的存储单元产生漏电流而导致目标存储单元的阈值电压被误判的情况。

主权项:1.一种存储单元选定电路,其特征在于,所述存储单元选定电路包括:多个存储单元,所有所述存储单元的漏极均通过一个主开关与第一位线的输入端连接,所有所述存储单元的源极均与公共接地端连接;比较器,其包括第一输入端和第二输入端,所述第一输入端通过所述第一位线与目标存储单元的漏极连接,所述第二输入端与校验电流连接;控制器,与所述比较器的输出端连接,用于根据所述比较器的输出判断所述目标存储单元是否擦除到位。

全文数据:

权利要求:

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