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申请/专利权人：苏州元脑智能科技有限公司

摘要：本申请实施例提供了一种双端口NVMeSSD的GetLBAStatus的测试方法、装置、存储介质及电子设备，其中，该方法包括：在检测到双端口NVMeSSD在位的情况下，导出上控机中包括的双端口NVMeSSD的第一信息，以及下控机中包括的双端口NVMeSSD的第二信息；在对逻辑块地址状态获取功能进行目标测试预定次数后，导出上控机中包括的双端口NVMeSSD的第三信息，以及下控机中包括的双端口NVMeSSD的第四信息，其中，目标测试包括：对GetLBAStatus功能进行支持性检测，得到第一检测结果，对不同范围长度下的GetLBAStatus功能进行检测，得到第二检测结果，对不同最大双字节数量下的GetLBAStatus功能进行检测，得到第三检测结果；基于第一信息、第二信息、第三信息以及第四信息确定GetLBAStatus功能的测试结果。

主权项：1.一种双端口NVMeSSD的GetLBAStatus的测试方法，其特征在于，应用于测试系统，所述测试系统用于测试双端口非易失性内存扩展固态硬盘NVMeSSD的逻辑块地址状态获取GetLBAStatus功能，所述测试系统包括存储服务器、控制机，所述控制机与所述存储服务器处于同一网络环境中，所述存储服务器包括上控机以及下控机，双端口NVMeSSD插入到所述存储服务器中，包括：在检测到所述双端口NVMeSSD在位的情况下，导出所述上控机中包括的所述双端口NVMeSSD的第一信息，以及所述下控机中包括的所述双端口NVMeSSD的第二信息；在对所述逻辑块地址状态获取功能进行目标测试预定次数后，导出所述上控机中包括的所述双端口NVMeSSD的第三信息，以及所述下控机中包括的所述双端口NVMeSSD的第四信息，其中，所述目标测试包括：对所述GetLBAStatus功能进行支持性检测，得到第一检测结果，对不同范围长度下的所述GetLBAStatus功能进行检测，得到第二检测结果，其中，所述范围长度用于指示获取逻辑块地址状态的数据块的长度，对不同最大双字节数量下的所述GetLBAStatus功能进行检测，得到第三检测结果；基于所述第一信息、所述第二信息、所述第三信息以及所述第四信息确定所述GetLBAStatus功能的测试结果。

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