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申请/专利权人：广东省科学院工业分析检测中心
摘要：本发明提供了一种测量小角度晶界位向差的透射电镜方法，包括步骤：制备透射电镜试样；采用透射电镜找到拟测量的第一晶粒和第二晶粒；第一次调节试样，第二次调节试样以及计算结果。本发明通过采用选区电子衍射，清晰的图像和衍射花样一一对应，具有更清晰的辨析度，结合球面角与双倾样品杆准确描述，简单易懂的数学计算快速精确给出相邻晶粒的位向差，在材料进行微观组织观察检测的同时快速测定取向差，具有操作简单、计算方便，直观易懂的优点。
主权项：1.一种测量小角度晶界位向差的透射电镜方法，其特征在于，包括以下步骤：制备透射电镜试样；采用透射电镜找到拟测量的第一晶粒和第二晶粒；第一次调节试样，调节所述第一晶粒的位向，采用选区光栏套住所述第一晶粒，获得第一晶粒的第一信息并记录，然后采用选区光栏套住所述第二晶粒，获得第二晶粒的第二信息并记录；第二次调节试样，采用选区光栏套住所述第二晶粒，获得所述第二晶粒的第三信息并记录，然后采用选区光栏套住所述第一晶粒，获得所述第一晶粒的第四信息并记录；利用第一位向差公式计算所述第一晶粒以及所述第二晶粒的位向差Δγ，利用第二位向差公式计算所述第一晶粒以及所述第二晶粒的位向差2θ1和2θ2，且所述2θ1对应偏离距离d1，所述2θ2对应偏离距离d2；其中，所述第一信息为第一晶粒的选区电子衍射花样及相对应的形貌像，样品杆的倾转角度α1以及样品杆的倾转角度β1；所述第三信息为第二晶粒的选区电子衍射花样及相对应的形貌像，样品杆的倾转角度α2以及样品杆的倾转角度β2；所述第一位向差公式为： 。
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权利要求：
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