买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

摘要：本发明涉及原子荧光探测技术领域，尤其涉及一种基于单光子的AFS色散检测系统及其检测方法，检测系统包括进样模块、原子化模块、光源激发模块光谱信号收集模块和光谱信号处理模块，进样模块用于将样品送入原子化模块，原子化模块用于对样品进行原子化，光源激发模块用于对样品进行激发，产生目标元素的原子荧光谱线，光谱信号收集模块用于将目标元素的原子荧光谱线在空间中展开并接收进行成像，光谱信号处理模块用于对成像数据进行分析，通过计算获得目标元素的浓度，光谱信号收集模块包括入射狭缝、色散元件和面阵位敏阳极单光子计数成像探测器。本发明能够分辨光谱干扰信号，在检测过程中直接扣除。

主权项：1.一种基于单光子的AFS色散检测系统，包括进样模块、原子化模块和光源激发模块，进样模块用于将样品送入原子化模块，原子化模块用于对样品进行原子化，光源激发模块用于对样品进行激发，使样品中的目标元素原子核外电子激发跃迁，产生目标元素的原子荧光谱线；其特征在于：基于单光子的AFS色散检测系统还包括光谱信号收集模块和光谱信号处理模块；其中，光谱信号收集模块包括入射狭缝、色散元件和面阵位敏阳极单光子计数成像探测器，入射狭缝用于对目标元素的原子荧光谱线进行准直，色散元件用于将准直后的原子荧光谱线按照波长在空间中展开，面阵位敏阳极单光子计数成像探测器用于采集波长展开后的原子荧光谱线；光谱信号处理模块包括等效像元坐标获取单元、散射干扰信号获取单元、对应关系确定单元、散射干扰光谱数据库建立单元、目标元素原子荧光谱线集建立单元、目标元素非干扰原子荧光谱线集获取单元、目标元素测试标准曲线绘制单元、光子计数总和值获取单元和目标元素浓度计算单元；其中，等效像元坐标获取单元用于在将没有元素的空白样品送入基于单光子的AFS色散检测系统时，获取当前时刻t0从微通道板位置处出射的电子云团形成的等效像元坐标，等效像元坐标Xt0Yt0的计算公式如下： ； ；式中，C表示微通道板的单位面积电容、k表示极间调制系数，L表示微通道板的直径，I和V分别表示电流和电压，和分别表示x方向和y方向的电子云团坐标偏差值，和表示电荷系数；对应关系确定单元用于对Tm时间内散射干扰信号的原子荧光谱线进行采集，分析不同波长的原子荧光所对应位置的散射干扰信号分布，确定等效像元坐标与散射干扰信号之间的关系；散射干扰光谱数据库建立单元用于根据等效像元坐标与散射干扰信号之间的关系，建立散射干扰光谱数据库，散射干扰光谱数据库为： ；式中，~分别表示散射干扰信号所对应的等效像元坐标；目标元素原子荧光谱线集建立单元用于对含有不同浓度目标元素的各测试样品进行原子荧光激发时，获取各测试样品中不同浓度的目标元素所激发出的原子荧光谱线和等效像元坐标之间的位置关系，建立目标元素原子荧光谱线集F，目标元素原子荧光谱线集F为：F；式中，~分别表示目标元素原子荧光谱线所对应的等效像元坐标；目标元素非干扰原子荧光谱线集获取单元用于确认目标元素原子荧光谱线集F与散射干扰光谱数据库之间的交集，并将该交集从目标元素原子荧光谱线集F中剔除，获得不受散射干扰信号干扰的目标元素非干扰原子荧光谱线集P，不受散射干扰信号干扰的目标元素非干扰原子荧光谱线集P为：P；式中，~分别表示不受散射干扰信号干扰的目标元素原子荧光谱线所对应的等效像元坐标；目标元素测试标准曲线绘制单元用于将各测试样品中不同浓度的目标元素在Tm时间内获得的光子计数总和记为信号强度，并根据目标元素的浓度和信号强度的关系绘制目标元素测试标准曲线；光子计数总和值获取单元用于对含有未知浓度目标元素的实际样品进行原子荧光激发时，基于目标元素非干扰原子荧光谱线集P，获得在Tm时间内实际样品中目标元素在不受散射干扰信号干扰的光子计数总和值Vt；目标元素浓度计算单元用于将光子计数总和值Vt带入目标元素测试标准曲线，根据浓度和信号强度的关系，计算得到实际样品中目标元素的浓度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 基于单光子的AFS色散检测系统及其检测方法