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一种大型全尺寸原型目标远场RCS的测量方法及介质 

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申请/专利权人:北京理工大学

摘要:本发明提供一种大型全尺寸原型目标远场RCS的测量方法及介质,涉及远场RCS的测试技术,方法包括:搭建缩比模型;获取大型全尺寸原型目标的物理尺寸、模拟频率和测试频率,确定缩比模型的物理尺寸以及缩比因子;搭建近场测试环境,确定定标体和缩比模型的近场数据;在模拟频率下测量大型全尺寸原型目标,得到目标反射系数;在测试频率下测量缩比模型,得到模型反射系数;处理近场数据,确定定标前定标体和缩比模型的远场数据;通过定标前缩比模型和定标体的远场数据,确定定标后缩比模型的远场数据;通过定标后缩比模型的远场数据、缩比因子和反射系数,确定大型全尺寸原型目标的远场数据。在近场环境下测试,降低了在场地上的难度。

主权项:1.一种大型全尺寸原型目标远场RCS的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:S100、获取大型全尺寸原型目标的信息,通过所述大型全尺寸原型目标的信息搭建缩比模型;S200、获取所述大型全尺寸原型目标的物理尺寸、模拟频率和缩比模型的测试频率;通过所述大型全尺寸原型目标的物理尺寸、模拟频率和缩比模型的测试频率,确定缩比模型的物理尺寸以及缩比因子;S300、搭建近场测试环境,通过雷达天线测试,确定定标体的近场数据和缩比模型的近场数据;S400、在所述模拟频率下测量大型全尺寸原型目标介质的反射系数,得到目标反射系数;在所述测试频率下测量缩比模型介质的反射系数,得到模型反射系数;S500、对所述定标体的近场数据和缩比模型的近场数据进行处理,确定定标前的定标体的远场数据和缩比模型的远场数据;S600、通过所述定标前缩比模型的远场数据和定标前定标体的远场数据,确定定标后缩比模型的远场数据;S700、通过所述定标后缩比模型的远场数据、缩比因子、目标反射系数和模型反射系数,确定大型全尺寸原型目标的远场数据。

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