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申请/专利权人：夏芯微电子(上海)有限公司
摘要：本发明公开了一种射频发射芯片的IQ平衡校准方法及装置、存储介质，所述射频发射芯片的IQ平衡校准方法包括：获取目标芯片对应的第一参考校准参数组，所述第一参考校准参数组为与所述目标芯片采用相同制作工艺的芯片采用的校准参数组，每一校准参数组包括I路的校准参数值和Q路的校准参数值；利用所述第一参考校准参数组测试得到所述目标芯片的本振信号泄漏值；比较所述本振信号泄漏值与泄漏值门限，以得到第一比较结果；利用所述第一比较结果确定所述目标芯片的目标校准参数组，所述目标校准参数组用于平衡所述目标芯片的I路的信号和Q路的信号。使用上述技术方案能够提高对射频发射芯片进行IQ平衡校准的效率，以降低芯片的生产成本。
主权项：1.一种射频发射芯片的IQ平衡校准方法，其特征在于，包括：获取目标芯片对应的第一参考校准参数组，所述第一参考校准参数组为与所述目标芯片采用相同制作工艺的芯片采用的校准参数组，每一校准参数组包括I路的校准参数值和Q路的校准参数值；利用所述第一参考校准参数组测试得到所述目标芯片的本振信号泄漏值；比较所述本振信号泄漏值与泄漏值门限，以得到第一比较结果；利用所述第一比较结果确定所述目标芯片的目标校准参数组，所述目标校准参数组用于平衡所述目标芯片的I路的信号和Q路的信号。
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权利要求：
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