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申请/专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日：2021-05-26
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN115406904B
主分类号：G01N21/95
分类号：G01N21/95;G01N21/01
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.07.05#授权;2022.12.16#实质审查的生效;2022.11.29#公开
摘要：本申请提供了一种不良检测装置、不良检测方法、电子设备及计算机可读存储介质，其中，不良检测装置用于检测透明基板，不良检测装置中的第一图像生成装置靠近第一表面设置，通过第一图像生成装置采集透明基板的第一图像；第二图像生成装置靠近第二表面设置，通过第二图像生成装置采集透明基板的第二图像，然后根据第一图像和第二图像，确定不良检测结果。
主权项：1.一种不良检测装置，其特征在于，用于对透明基板进行检测，所述透明基板包括相对的第一表面和第二表面，所述不良检测装置包括：第一光源，设置为在所述透明基板被检测时靠近所述第一表面，用于向所述第一表面提供第一入射光线；第二光源，设置为在所述透明基板被检测时靠近所述第二表面，用于向所述第二表面提供第二入射光线；第一图像生成装置，设置为在所述透明基板被检测时靠近所述第一表面，用于采集所述透明基板的第一图像；第二图像生成装置，设置为在所述透明基板被检测时靠近所述第二表面，与所述第一图像生成装置相对所述透明基板对称设置，用于采集所述透明基板的第二图像；以及，图像处理装置，分别与所述第一图像生成装置以及所述第二图像生成装置连接，用于获取所述第一图像和所述第二图像，并根据所述第一图像与所述第二图像，确定不良检测结果；所述图像处理装置还被配置为：响应于所述透明基板的不良检测结果具有不良，根据所述第一图像以及所述第二图像的灰阶分布确定所述透明基板的不良位置范围；以及，根据所述第一图像中的不良位置范围内的一个或多个像素的灰阶，以及所述第二图像中的不良位置范围内的一个或多个像素的灰阶，计算所述不良在所述透明基板的第一表面或第二表面。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 京东方科技集团股份有限公司 不良检测装置、方法、电子设备及计算机可读存储介质
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