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申请/专利权人:宁波希磁电子科技有限公司
摘要:本发明公开了一种惠斯通电桥中单电阻测试装置及系统,设置两个测试台,第一测试台及第二测试台均包括:磁场装置及印制电路板;磁场装置生成测试磁场;惠斯通电桥与印制电路板的测试电路连接;印制电路板引出多个测试点,测试点与上位机连接;上位机基于每个测试点的电压,反向求解惠斯通电桥中单电阻阻值,并基于测试磁场以及单电阻阻值,拟合单电阻的TC曲线。利用此测试装置及测试方法可以获取芯片的单个桥臂电阻或单个磁电阻元件与磁场之间的关系,即可获取芯片的单个桥臂电阻或单个磁电阻元件的灵敏度,满足对芯片灵敏度性能的测试要求,同时可以以此作为判断优良的基准,减少不良品流出。
主权项:1.一种惠斯通电桥中单电阻测试装置,其特征在于,包括第一测试台、第二测试台,其中,所述第一测试台及所述第二测试台均包括:磁场装置及印制电路板;所述磁场装置生成测试磁场;所述惠斯通电桥与所述印制电路板的测试电路连接;所述印制电路板引出多个测试点,所述测试点与上位机连接;所述上位机基于每个测试点的电压,反向求解惠斯通电桥中单电阻阻值,并基于测试磁场以及单电阻阻值,拟合单电阻的TC曲线;所述第一测试台的印制电路板包括:电源端、接地端、桥臂测试点;所述电源端与惠斯通电桥的每个半桥臂的第一端、外接激励源连接;所述接地端与惠斯通电桥的每个半桥臂的第二端连接;所述桥臂测试点与惠斯通电桥的每个半桥臂的中点、上位机连接,所述桥臂测试点引出每个半桥臂中点电压;所述第二测试台的印制电路板包括:第一电源端、第二电源端、总电压测试点、桥臂测试点、测试电阻;所述第一电源端与惠斯通电桥的每个半桥臂的第一端、每个半桥臂的第二端外接激励源的第一端连接;所述惠斯通电桥的每个半桥臂的中点均通过测试电阻与所述第二电源端连接,所述第二电源端与外接激励源的第二端连接;所述总电压测试点与惠斯通电桥的每个半桥臂的第一端、每个半桥臂的第二端连接,所述总电压测试点引出惠斯通电桥总电压;所述桥臂测试点与所述惠斯通电桥的每个半桥臂的中点连接,所述桥臂测试点引出所述惠斯通电桥的每个半桥臂的中点电压。
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