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申请/专利权人：西门子医疗有限公司
申请日：2020-06-10
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN113777545B
主分类号：G01R33/485
分类号：G01R33/485;G01R33/58
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.07.05#授权;2021.12.28#实质审查的生效;2021.12.10#公开
摘要：本发明提供化学交换饱和转移成像校正方法、装置及可读存储介质。方法包括：采集成像区域的多幅CEST图像；对于每幅CEST图像中的每个像素点，计算该像素点对应的实际饱和频率，计算该像素点对应的实际饱和B1场强度；对于所有CEST图像中对应成像区域的同一体素的各像素点，将各像素点对应的实际饱和频率和实际饱和B1场强度分别与期望饱和频率和期望饱和B1场强度比较，根据比较结果选择出多个像素点作为插值像素点，对选择出的插值像素点的像素值进行插值计算，得到对应体素在期望饱和频率和期望饱和B1场强度下的像素值。本发明提高了对CEST成像进行校正的速度。
主权项：1.化学交换饱和转移CEST成像校正方法，其特征在于，包括：采集成像区域的多幅CEST图像；对于每幅CEST图像中的每个像素点，根据预先获取的该像素点对应体素的水共振频率相对主磁场对应水共振频率的频率偏移值以及采集该CEST图像时使用的预饱和射频脉冲的频率，计算该像素点对应的实际饱和频率，根据预先获取的该像素点对应体素的实际饱和B1场强度与系统B1场强度的转换系数以及采集该CEST图像时使用的预饱和射频脉冲的强度，计算该像素点对应的实际饱和B1场强度；其中，系统B1场强度等于采集该CEST图像时使用的预饱和射频脉冲的强度；对于所有CEST图像中对应成像区域的同一体素的各像素点，将各像素点对应的实际饱和频率和实际饱和B1场强度分别与期望饱和频率和期望饱和B1场强度比较，根据比较结果选择出多个像素点作为插值像素点，对选择出的插值像素点在所在CEST图像上的像素值进行插值计算，得到对应体素在期望饱和频率和期望饱和B1场强度下的像素值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西门子医疗有限公司 化学交换饱和转移成像校正方法、装置及可读存储介质
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