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申请/专利权人：深圳宏芯宇存储技术有限公司
申请日：2024-03-28
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118298900A
主分类号：G11C29/56
分类号：G11C29/56
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开
摘要：本申请提出一种存储芯片测试方法及存储芯片测试装置、存储介质。通讯板通过至少一串口扩展芯片连接若干测试板，串口扩展芯片的每一串口连接一测试板，通讯板通过第一端口和第二端口与上位机分别建立第一连接和第二连接；通讯板接收各个测试板产生的缓存数据，并识别出日志数据或指令数据；通讯板将接收到的日志数据加入对应的日志队列、指令数据加入对应的指令队列，以及将日志队列中的日志数据和指令队列中的指令数据分别通过第一连接和第二连接并列传输给上位机。本申请可以降低测试所需硬件的成本和复杂性，测试数据的缓存较为稳定，并且指令数据和日志数据可同时传输至上位机，可以实时查看测试数据。
主权项：1.一种存储芯片测试方法，其特征在于，包括：通讯板通过至少一串口扩展芯片连接若干测试板，所述串口扩展芯片设置有多个串口且每一所述串口连接一所述测试板，以及所述通讯板通过第一端口与上位机建立第一连接并通过第二端口与上位机建立第二连接；所述通讯板接收各个测试板产生的缓存数据，并从所述缓存数据中识别出日志数据或指令数据；所述通讯板将接收到的所述日志数据加入各个测试板对应的日志队列，将接收到的所述指令数据加入各个测试板对应的指令队列；所述通讯板将所述日志队列中的日志数据通过所述第一连接和将所述指令队列中的指令数据通过所述第二连接并行传输给所述上位机。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳宏芯宇存储技术有限公司 存储芯片测试方法及存储芯片测试装置、存储介质
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