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申请/专利权人：古野电气株式会社
申请日：2023-11-30
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118294686A
主分类号：G01N35/04
分类号：G01N35/04;G01N21/01
优先权：["20230105 JP 2023-000520"]
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.07.05#公开
摘要：本发明提出一种分析装置，可提高基于相关处理的测定位置的修正精度。分析装置包括测光部、获取部以及修正部。测光部从高度方向上的一端开口的比色杯的宽度方向上的一端跨及另一端在多个测定位置对吸光度进行测定。获取部获取在将空白液放入至比色杯的状态下由测光部测定出的空白数据、及在将使检体与试剂反应后的反应液放入至比色杯的状态下由测光部测定出的检体数据。修正部基于空白数据及检体数据中的各测定位置的相关处理，进行使空白数据及检体数据各自的测定位置一致的修正。
主权项：1.一种分析装置，其特征在于，包括：测光部，从高度方向上的一端开口的比色杯的宽度方向上的一端跨及另一端在多个测定位置对吸光度进行测定；获取部，获取在将空白液放入至所述比色杯的状态下由所述测光部测定出的空白数据、及在将使检体与试剂反应后的反应液放入至所述比色杯的状态下由所述测光部测定出的检体数据；以及修正部，基于所述空白数据及所述检体数据中的各测定位置的相关处理，进行使所述空白数据及所述检体数据各自的所述测定位置一致的修正。
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