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检测电路的检测方法 

申请/专利权人:黑泽科技股份有限公司

申请日:2023-01-04

公开(公告)日:2024-07-05

公开(公告)号:CN118294705A

主分类号:G01R1/28

分类号:G01R1/28;G01R31/28

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开

摘要:本发明为一种检测电路的检测方法,其应用于检测一待测电路,本发明借由提供一测试电源至一待测电路的至少一线路的一输入端,该待测电路于一测试时间内经由该至少一探针元件耦接该至少一线路的一输出端,而测得一测试讯号,且该测试时间对应于该至少一线路的一线路材料特性。如此即可检测该待测电路的可量化电性并可让该至少一线路于对应的测试时间中完成测试。

主权项:1.一种检测电路的检测方法,其特征在于,其应用于检测一待测电路,该待测电路上设有至少一线路,该检测电路的检测方法包含:提供一测试电源传导至该待测电路的该至少一线路的一输入端;利用至少一探针元件耦接该待测电路的该至少一线路的一输出端;该待测电路于一测试时间内经由该至少一探针元件耦接并产生一测试讯号;其中,该测试时间对应于该至少一线路的一线路材料特性。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 黑泽科技股份有限公司 检测电路的检测方法

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