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基于激光干涉的全圆周角度测量系统及方法 

申请/专利权人:西安理工大学

申请日:2024-04-11

公开(公告)日:2024-07-05

公开(公告)号:CN118293826A

主分类号:G01B11/26

分类号:G01B11/26;G01B9/02001;G01B9/02015;G01B9/02055

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开

摘要:本发明公开了基于激光干涉的全圆周角度测量系统,包括计算机,计算机内安装有PCI数据采集卡,计算机通过导线连接有激光干涉仪;还包括角度干涉镜单元与角度反射镜单元,角度干涉镜单元、角度反射镜单元与激光干涉仪配合设置,角度反射镜单元固接有步进驱动单元,步进驱动单元连接有被检装置。本发明还公开了使用该系统进行全圆周角度测量的方法。本发明的基于激光干涉的全圆周角度测量系统及方法,当超出激光干涉仪测角范围后,步进驱动单元带动角度反射镜单元回复激光干涉仪零位,解决了现有角度测量技术只能进行小角度测量的问题。

主权项:1.基于激光干涉的全圆周角度测量系统,其特征在于,包括计算机14,所述计算机14内安装有PCI数据采集卡,所述计算机14通过导线连接有激光干涉仪;还包括角度干涉镜单元3与角度反射镜单元4,所述角度干涉镜单元3、角度反射镜单元4与所述激光干涉仪配合设置,所述角度反射镜单元4固接有步进驱动单元,所述步进驱动单元连接有被检装置6。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安理工大学 基于激光干涉的全圆周角度测量系统及方法

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