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申请/专利权人：恩德斯豪斯分析仪表两合公司
申请日：2022-11-21
公开（公告）日：2024-07-05
公开（公告）号：CN118302662A
主分类号：G01N21/27
分类号：G01N21/27;G01N21/93;G01N21/64;G01N21/85;G01N33/18
优先权：["20211216 DE 102021133467.5"]
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.07.23#实质审查的生效;2024.07.05#公开
摘要：本发明公开了一种用于光学传感器（100）的调整、校准和或用于执行功能检查的校准附件（50），校准附件（50）被配置成用于借助于光来测量介质（5）中的至少一个测量变量，其中，传感器（100）被配置成用于发射至少在200‑450nm范围内的波长的发射光，该校准附件（50）包括壳体（52）；以及布置在壳体（52）中的主体（51），其中，主体（51）包括镨，并且在用发射光激发之后，主体（51）发射具有不同的波长，特别是更长波长的光。本发明还公开了一种包括这样的校准附件的传感器装置及其用途。
主权项：1.一种用于调整、校准和或用于执行光学传感器（100）的功能检查的校准附件（50），所述光学传感器（100）被设计成借助于光来测量介质（5）中的至少一个测量变量，其中，所述传感器（100）被设计成发射至少在200-450nm范围内的波长的发射光，所述校准附件（50）包括：-壳体（52），以及-主体（51），所述主体（51）被布置在所述壳体（52）中，其中，所述主体（51）包括镨，以及其中，所述主体（51）在用所述发射光激发之后发射不同的波长，特别是更长波长的光。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 恩德斯豪斯分析仪表两合公司 校准标准、传感器装置和用途
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