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申请/专利权人：TCL科技集团股份有限公司
摘要：本申请提供一种QLED面板的测试方法、装置、系统和计算机存储介质，其中，所述QLED面板具有多个像素点，相邻的两个像素点之间设有发光像素格；所述测试方法包括：以第一预设电流驱动所述QLED面板；获取所述QLED面板的亮度随时间的变化值；在单位时间的所述变化值大于预设亮度变化量时，停止向所述QLED面板输入所述第一预设电流，以第二预设电流驱动所述发光像素格；获取所述发光像素格的第一光电参数；基于所述第一光电参数，判断测试设备是否正常；在基于所述测试结果确定所述测试设备运行正常时，确定所述QLED面板为不良品。本申请旨在提高QLED面板测试的可靠性和准确率。
主权项：1.一种QLED面板的测试方法，其特征在于，所述QLED面板具有多个像素点，相邻的两个像素点之间设有发光像素格；所述测试方法包括：以第一预设电流驱动所述QLED面板；获取所述QLED面板的亮度随时间的变化值；在单位时间的所述变化值大于预设亮度变化量时，停止向所述QLED面板输入所述第一预设电流，以第二预设电流驱动所述发光像素格；获取所述发光像素格的第一光电参数；基于所述第一光电参数，判断测试设备是否正常；在确定所述测试设备正常时，确定所述QLED面板为不良品。
全文数据：
权利要求：
百度查询： TCL科技集团股份有限公司 QLED面板的测试方法、装置、系统和计算机存储介质
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