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一种测定纳米二氧化铈胶体中三价铈相对含量的方法 

申请/专利权人:中国科学院大连化学物理研究所

申请日:2022-12-30

公开(公告)日:2024-07-02

公开(公告)号:CN118275373A

主分类号:G01N21/33

分类号:G01N21/33

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.07.19#实质审查的生效;2024.07.02#公开

摘要:本发明公开了一种基于紫外可见光谱测定纳米二氧化铈胶体中三价铈相对含量的方法。该测定包括以下步骤:在紫外可见光谱仪上测定二氧化铈样品的吸光度,通过hν‑αhν2图像得到二氧化铈样品的实际禁带宽度,其中hν为光子能量、α为样品吸光系数,之后计算得到二氧化铈样品的理论禁带宽度,以理论禁带宽度与实际禁带宽度的差值表征二氧化铈样品中三价铈的含量。本发明的优势在于可直接在室温下对液体样品进行测量进而表征不同纳米二氧化铈中三价铈含量的差别,能够最真实地反映样品的化学价态,并且样品制备简便、测试流程短、成本低、可重复性高。

主权项:1.一种测定纳米二氧化铈胶体中三价铈相对含量的方法,其特征在于,所述测定方法包括以下步骤:1使用紫外可见光谱仪测定纳米二氧化铈胶体样品的吸光度;2以光子能量hν为横坐标,αhν2为纵坐标建立图像,其中α为纳米二氧化铈胶体样品吸光系数;图像中横坐标在3.1~3.8eV优选3.2~3.75eV,更优选3.25~3.7eV之间的直线部分的延长线与横坐标的交点为二氧化铈样品的实际禁带宽度记为Eg,1;3根据纳米二氧化铈胶体中纳米二氧化铈颗粒尺寸与禁带宽度的关系方程计算得到纳米二氧化铈样品的理论禁带宽度记为Eg,2;4以纳米二氧化铈禁带宽度理论值与实际值的差值ΔEgΔEg=Eg,2-Eg,1的数值大小表征三价铈的相对含量。

全文数据:

权利要求:

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