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一种PCB板老化测试装置 

申请/专利权人:深圳市晟锦威电子科技有限公司

申请日:2023-10-25

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN221239036U

主分类号:G01R31/28

分类号:G01R31/28;G01R1/04;G01R31/01

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.28#授权

摘要:本实用新型公开了一种PCB板老化测试装置,该测试装置包括有:测试箱、板件座、进口阀、出口阀以及传送带;进口阀、传送带以及出口阀联通形成容待测试PCB板接续传送的通道;板件座与传送带相配合,板件座放置在传送带上,沿传送带往复传送。相比于现有技术,在本实用新型当中提供的PCB老化测试装置能动性强、便于拆装、结构简洁紧凑,应用到具体的PCB板老化测试场景中时,能应对大规模PCB板的测试需求,大幅提升测试效率。

主权项:1.一种PCB板老化测试装置,其特征在于,该测试装置包括有:测试箱:具有内部空间,用于为老化测试提供测试空间;板件座:用于放置待测试PCB板,并向放置于其上的PCB板提供对应测试电源;进口阀:设置在所述测试箱上,用于受控地向待测试PCB板提供进入所述测试箱的入口;出口阀:与所述进口阀对应,设置在所述测试箱上,用于受控地向待测试PCB板提供离开所述测试箱的出口;传送带:设置在所述测试箱中,与所述测试箱连接;所述进口阀、所述传送带以及所述出口阀联通形成容待测试PCB板接续传送的通道;所述板件座与所述传送带相配合,所述板件座放置在所述传送带上,沿所述传送带往复传送。

全文数据:

权利要求:

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