申请/专利权人:亚历山大·曼内斯基
申请日:2020-01-29
公开(公告)日:2024-06-28
公开(公告)号:CN113711086B
主分类号:G01V3/10
分类号:G01V3/10;G01V11/00;G01V8/00;G01S13/88;G01N22/00
优先权:["20190129 FR 1900765"]
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.06.28#授权;2021.12.14#实质审查的生效;2021.11.26#公开
摘要:本发明涉及一种检测系统,包括:感应场型检测装置140;使用基于微波场的成像的检测装置10;分析装置50,该分析装置适合于分析来自感应检测装置140的信号并适合于从中推断金属目标的潜在存在;以及适合于相应地至少在感兴趣区域修改使用基于微波的成像的检测装置10的灵敏度的装置。
主权项:1.一种检测系统,包括:-感应场型检测装置140-微波场成像型检测装置10,所述微波场成像型检测装置被配置为生成微波图像,-分析装置50,所述分析装置被配置为分析来自所述感应场型检测装置140的信号,并从中推断金属目标的潜在存在,所述分析装置50还被配置为在所述感应场型检测装置140识别出至少一个金属目标潜在存在的情况下,确定所述至少一个金属目标的位置,并且相应地适配所述微波场成像型检测装置10的灵敏度,使得所述灵敏度在对应于所述至少一个金属目标的位置的一个或多个感兴趣区域中比在所述微波图像的其余部分中更大。
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