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包括场增强元件的电磁暴露评估装置 

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申请/专利权人:雷恩大学;国家科学研究中心;雷恩国家应用科学研究所;南特大学;巴黎中央理工

摘要:一种用于测量与由电磁源2发射的电磁EM场相关的物理量的装置1,所述装置被配置成模拟由有损耗介质,例如生物组织,特别是人体组织,构成的参考对象的EM特性,所述装置包括:‑至少一个电介质层3,其包括面向所述电磁源2的上表面31和底表面32,所述电介质层3对由所述电磁源2发射的所述EM场至少部分透明;‑至少一个电磁场增强元件4,其相对于所述至少一个电介质层3布置且配置成增强预定区12中透射通过所述至少一个电介质层3的电磁场的强度;‑至少一个传感器5,其布置在所述至少一个电磁场增强元件4之下且被配置成测量与透射通过所述至少一个电介质层3和所述至少一个电磁场增强元件4的电磁场相关的所述物理量。

主权项:1.一种用于测量与由电磁源2发射的电磁EM场相关的物理量的装置1,所述装置被配置成模拟由有损耗介质,例如生物组织,特别是人体组织,构成的参考对象的EM特性,所述装置包括:-至少一个电介质层3,其包括面向所述电磁源2的上表面31和底表面32,所述电介质层3对由所述电磁源2发射的所述EM场至少部分透明;-至少一个电磁场增强元件4,其相对于所述至少一个电介质层3布置且配置成增强预定区12中透射通过所述至少一个电介质层3的电磁场的强度;-至少一个传感器5,其布置在所述至少一个电磁场增强元件4之下且被配置成测量与透射通过所述至少一个电介质层3和所述至少一个电磁场增强元件4的电磁场相关的所述物理量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 雷恩大学 国家科学研究中心 雷恩国家应用科学研究所 南特大学 巴黎中央理工 包括场增强元件的电磁暴露评估装置

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