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申请/专利权人：三星电子株式会社
申请日：2023-09-13
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN118259143A
主分类号：G01R31/3185
分类号：G01R31/3185;G06F30/333;G06F30/392;G01R31/3193
优先权：["20221226 KR 10-2022-0185065"]
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.28#公开
摘要：公开了一种测试电子设备的方法，该方法包括由计算机接收电路布局，由计算机从电路布局生成可测试性设计DFT布局，由计算机基于DFT布局通过使用电子设计自动化EDA工具生成测试样式，以及由计算机从DFT布局生成混合布局，并且通过使用测试样式来测试通过使用混合布局制造的电子设备。
主权项：1.一种测试电子设备的方法，该方法包括：由计算机接收对应于电子设备的电路布局；由计算机从电路布局生成可测试性设计DFT布局；由计算机至少部分地基于DFT布局，通过使用电子设计自动化EDA工具生成测试样式；以及由计算机从DFT布局生成混合布局，所述混合布局是通过从DFT布局移除或转换与扫描链相关联的组件而生成的，其中，通过使用测试样式来测试通过使用混合布局制造的电子设备。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 三星电子株式会社 电子设备和测试电子设备的方法
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