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一种光谱仪的低温恒温设备 

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申请/专利权人:国网上海市电力公司;四川天瓴创新科技集团有限公司

摘要:本发明涉及光谱仪低温控制技术领域,具体涉及一种光谱仪的低温恒温设备,包括:恒温箱和控制单元,恒温箱包括:壳体;温控组件;温度传感器,其设置于真空腔内用于检测实时温度,温度传感器与控制单元电连接;温湿度传感器,其设置于壳体的外侧壁上用于检测环境相对湿度和环境温度,温湿度传感器与控制单元电连接;薄膜电容真空计,其设置于真空腔内用于检测实时压力,薄膜电容真空计与控制单元电连接;控制单元包括:信息采集模块、制冷模块、调整模块和加热模块。本发明通过加热模块与制冷模块的双向控制保证光谱仪在检测过程中温度变化处于标准范围,避免因为温度变化导致压强变化,进而影响光谱测量的准确性。

主权项:1.一种光谱仪的低温恒温设备,其特征在于,包括恒温箱和控制单元,所述恒温箱包括:壳体,所述壳体内部为密闭的真空腔;温控组件,包括加热片和制冷片;所述加热片,其设置于所述真空腔内,所述加热片与所述控制单元电连接;所述制冷片,其设置于所述真空腔内,所述制冷片与所述控制单元电连接;温度传感器,其设置于所述真空腔内用于检测实时温度,所述温度传感器与所述控制单元电连接;温湿度传感器,其设置于所述壳体的外侧壁上用于检测环境相对湿度和环境温度,所述温湿度传感器与所述控制单元电连接;薄膜电容真空计,其设置于所述真空腔内用于检测实时压力,所述薄膜电容真空计与所述控制单元电连接;所述控制单元包括:信息采集模块,用于获取所述温度传感器、温湿度传感器、薄膜电容真空计的检测数据、所述光谱仪的最佳检测数据、所述光谱仪待检测物品的标准处理数据;制冷模块,用于根据所述信息采集模块获取的所述待检测物品的标准处理数据确定标准制冷温度A,根据所述标准制冷温度A控制所述制冷片进行低温制冷;调整模块,用于根据所述信息采集单元获取的所述检测数据确定结露点温度,根据所述结露点温度判断是否需要调整所述标准制冷温度A,当判断结果为不需要调整时则根据所述标准制冷温度A控制所述制冷片进行低温制冷,当判断结果为需要调整时则根据调整后得到的最终制冷温度B控制所述制冷片进行低温制冷;加热模块,用于在所述调整模块控制所述制冷片进行低温制冷后,预设制冷时长,在所述制冷时长内根据所述信息采集单元获取的所述检测数据确定加热系数,根据所述加热系数判断是否需要开启所述加热片进行双向控制。

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权利要求:

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