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一种梯形氮化镓微米线阵列光电探测器及其制备方法 

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申请/专利权人:浙江芯科半导体有限公司

摘要:本发明公开了一种梯形氮化镓微米线阵列光电探测器及其制备方法,该探测器包括:硅衬底;二氧化硅绝缘层,间隔形成在所述硅衬底上,以使未覆盖所述二氧化硅绝缘层的衬底上形成若干凹槽结构;氮化镓微米线,形成在所述凹槽结构内,并且所述微米线延伸方向与凹槽结构延伸方向一致,并且使得氮化镓微米线高于所述二氧化硅绝缘层;氮化铝缓冲层,形成在所述凹槽结构的氮化镓微米线内部;若干金属电极,设置在所述氮化镓微米线和所述二氧化硅绝缘层上方且与所述凹槽结构方向垂直。该光电探测器的光暗电流高、响应迅速、开关电流比高以及探测范围广等良好特性,并且器件结构易于生长制造。

主权项:1.一种梯形氮化镓微米线阵列光电探测器制备方法,其特征在于,包括:S1、提供一硅衬底;S2、在所述硅衬底上沉积二氧化硅绝缘层;S3、对所述二氧化硅绝缘层进行刻蚀,形成用于生长微米线的若干凹槽结构;S4、在所述凹槽结构内外延生长氮化镓微米线并且使得氮化镓微米线高于所述二氧化硅绝缘层,其中,所述氮化镓微米线的延伸方向与凹槽结构的延伸方向一致,所述氮化镓微米线的横截面形状为梯形,所述梯形的高与所述硅衬底所在的平面垂直,下底与所述凹槽底部接触;S5、在所述微米线表面蒸镀若干金属电极,所述若干金属电极的延伸方向与所述凹槽结构的延伸方向垂直;所述S3步骤包括:S31、在所述二氧化硅绝缘层表面旋涂一层光刻胶,通过前烘、曝光、后烘以及显影后使所述二氧化硅绝缘层表面形成周期性排列的条形外延图形;S32、根据所述条形外延图形对所述二氧化硅绝缘层进行选择性刻蚀,然后对所述二氧化硅绝缘层进行去胶处理,得到用于生长微米线的若干凹槽结构。

全文数据:

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