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颗粒物进样装置、气溶胶质谱仪、单颗粒直径测量方法 

申请/专利权人:西北核技术研究所

申请日:2023-01-06

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN116072506B

主分类号:H01J49/04

分类号:H01J49/04;H01J49/26;H01J49/00;G01N1/24;G01N15/0205;G01N27/62

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权;2023.05.23#实质审查的生效;2023.05.05#公开

摘要:本发明属于一种气溶胶进样及颗粒测量方法,为解决单颗粒气溶胶质谱仪测量颗粒直径时,针对环境气压波动和进样口堵塞的不利影响,现有的校正方法拟合参数随条件变化,且不能克服气压波动或进样口堵塞对粒径标定曲线不利影响的技术问题,提供一种颗粒物进样装置、气溶胶质谱仪、单颗粒直径测量方法,可对进入装置腔内的环境气溶胶进行连续可控的稀释调节,适用于负压到正压范围。另外,若空气动力学透镜进口气压因环境气压波动或进样口堵塞而发生变化,还可利用空气动力学透镜上游装置腔内的气压监测值对颗粒测量直径进行自动校正,在测定粒径标定曲线时,仅需测量同一大小颗粒在不同气压条件下的飞行时间即可。

主权项:1.一种颗粒物进样装置,其特征在于,包括装置腔3、气压传感器10、温湿度传感器11、排气管路13和单向阀17;所述装置腔3上开设有进口1、出口2、旁路进口15和旁路出口16;所述进口1用于环境气溶胶进入,所述出口2连通至气溶胶质谱仪的空气动力学透镜8入口,在装置腔3的进口1和出口2之间形成气溶胶流动通道;所述旁路进口15和旁路出口16之间通过旁路管路14连通,旁路管路14位于装置腔3外部,旁路进口15靠近进口1设置,且旁路出口16和旁路进口15均位于气溶胶流动通道上;所述旁路管路14上由旁路进口15和旁路出口16依次设置有抽气泵5和气压调节阀6;所述气压传感器10的检测端和所述温湿度传感器11的检测端均位于装置腔3内,气压调节阀6开度和抽气泵5转速根据气溶胶质谱仪第一束测径激光21和第二束测径激光22记录的单颗粒信号的频率确定,使装置腔3内的气溶胶满足以下条件:lnτ和lnStkm12存在线性关系,其中,τ为颗粒飞行时间,α1和α2为颗粒类型第一参数和颗粒类型第二参数,P0为一个标准大气压,T0表示常温,Dn为空气动力学透镜8出口喷嘴20的孔径,ρp为颗粒的密度,Dp为颗粒的直径,χ为颗粒的形状因子,Plens为空气动力学透镜8进口气压,Z0为载气参数;所述排气管路13一端与外部连通,另一端分为调节路18和废气路19;所述调节路18与旁路管路14连通,单向阀17设置在调节路18上;所述废气路19与气溶胶质谱仪废气管路的真空泵9连通。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西北核技术研究所 颗粒物进样装置、气溶胶质谱仪、单颗粒直径测量方法

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