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申请/专利权人:厦门大学
摘要:结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法,属于显微检测技术领域。1在显微系统成像光路的探测端利用CCD相机采集显微镜视场的图像;2运行显微系统,采集并保存用于深度学习模型训练的原始数据;3标注并扩充原始数据集,搭建、训练并测试深度学习模型;4检测微粒的一级衍射环半径并通过拟合获得标定曲线;5根据标定的曲线实时计算微粒的轴向位移。适用于多种显微系统,适用性广泛。有监督学习可拥有更好的检测性能,可在显微镜下实时识别并检测微粒的一级衍射环半径。结合图像数据增强的方法,快速简便,降低轴向位移的实时测量成本。在没有额外引进硬件设备的前提下,具有测量精确,适用性强,不易受环境光影响等优点。
主权项:1.结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法,其特征在于包括以下步骤:1在显微系统成像光路的探测端利用CCD相机采集显微镜视场的图像;2运行显微系统,采集并保存用于深度学习模型训练的原始数据;3标注并扩充原始数据集,搭建、训练并测试深度学习模型;4检测微粒的一级衍射环半径并通过拟合获得标定曲线;5根据标定的曲线实时计算微粒的轴向位移。
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百度查询: 厦门大学 结合深度学习的微粒轴向位移的实时测量方法
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