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申请/专利权人：北京无线电计量测试研究所
摘要：本说明书公开了一种用于镱离子微波频标的荧光探测系统，用于解决由于用于相机成像的镱原子中性荧光与用于光子计数的镱离子荧光波长存在差异，会导致通过光学镜片组后的焦点位置存在偏差的问题。本发明包括：离子阱、光学镜片组、滤光器组、荧光收集器组位于光学筒中；离子阱，用于囚禁微波频标的工作物质镱离子，镱离子能级跃迁时辐射出荧光；光学镜片组，用于接收荧光并对荧光进行汇聚；滤光器组，用于遮挡环境杂散光，使得有用光信号进入荧光收集器组；荧光收集器组，用于收集光学镜片组汇聚的荧光，同时对镱离子进行阱中心定位和镱离子辐射的荧光进行光子计数。本发明中，离子阱内被囚禁的镱离子辐射的荧光信号被相机和光电倍增管同时探测。
主权项：1.一种用于镱离子微波频标的荧光探测系统，其特征在于，所述荧光探测系统包括离子阱、光学镜片组、滤光器组、荧光收集器组和光学筒；所述离子阱、光学镜片组、滤光器组、荧光收集器组位于所述光学筒中；所述离子阱，用于囚禁微波频标的工作物质镱离子，所述镱离子能级跃迁时辐射出荧光；所述光学镜片组，用于接收所述荧光并对所述荧光进行汇聚；所述滤光器组，用于遮挡环境杂散光，使得有用光信号进入所述荧光收集器组；所述荧光收集器组，用于收集所述光学镜片组汇聚的荧光，同时对所述镱离子进行阱中心定位和所述镱离子辐射的荧光进行光子计数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京无线电计量测试研究所 一种用于镱离子微波频标的荧光探测系统
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