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申请/专利权人：哈尔滨工业大学
申请日：2024-03-11
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN118243953A
主分类号：G01P5/22
分类号：G01P5/22
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.25#公开
摘要：一种基于分层算法的3D‑PIV测量装置及测量方法，涉及流场测量技术领域。激光器输出激光，扩束镜和准直镜将激光整形为片光，两个反射镜中间位置为测量区域，片光射入两个反射镜之间并多次反射形成多道能量逐次下降的片光，两个聚焦镜布置在两个反射镜之间并位于测量区域两侧，使片光聚焦在测量区域中心位置，高速相机与测量区域对应布置捕捉示踪粒子的散射图像。利用两个反射镜形成空间多截面、多级能量的片光分布，仅采用单个高速相机采集示踪粒子散射信号，有助于控制成本，标定简洁，适应性高。
主权项：1.一种基于分层算法的3D-PIV测量装置，其特征在于：包括激光器1、扩束镜2、准直镜3、高速相机4、两个反射镜5以及两个聚焦镜6，所述激光器1输出激光，所述扩束镜2和所述准直镜3依次布置在激光器1后方将激光整形为片光，所述两个反射镜5正向相对布置在片光后方，两个反射镜5中间位置为测量区域，两个反射镜5的排布方向与片光入射方向之间留有夹角，使片光能够射入两个反射镜5之间并多次反射形成多道能量逐次下降的片光，所述两个聚焦镜6布置在两个反射镜5之间并位于所述测量区域两侧，两个聚焦镜6共焦，通过调整使片光聚焦在测量区域中心位置，所述高速相机4与测量区域对应布置用于捕捉示踪粒子的散射图像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 哈尔滨工业大学 一种基于分层算法的3D-PIV测量装置及测量方法
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