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申请/专利权人：深圳市富程威科技股份有限公司
申请日：2023-11-29
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN221198321U
主分类号：G01B11/00
分类号：G01B11/00
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.21#授权
摘要：本实用新型属于高分子硅胶发泡材料加工技术领域，公开了一种高分子硅胶发泡材料尺寸检测装置。其中包括支座，支座上安装有工作台，支座垂直于水平面，工作台上安装有两组限位组件，限位组件设置在工作台两侧，其中一组限位组件靠近硫化炉，限位组件内穿设有高分子硅胶发泡材料，限位组件之间还安装有第一激光发射器、第一接收器、第二激光发射器和第二接收器，激光被高分子硅胶发泡材料遮挡，第一接收器和第二接收器上形成有阴影区域，第一接收器和第二接收器测量阴影区域间距；解决现有技术下人工检测高分子硅胶发泡材料时误差较大的问题。
主权项：1.一种高分子硅胶发泡材料尺寸检测装置，其特征在于，包括支座1，所述支座1上安装有工作台2，所述支座1垂直于水平面，设定支座1长度方向为Z轴，设定高分子硅胶发泡材料22移动的方向为X轴，设定Y轴分别与所述Z轴和X轴垂直，所述工作台2上安装有两组限位组件，所述限位组件设置在所述工作台2两侧，其中一组所述限位组件靠近硫化炉，所述限位组件内穿设有高分子硅胶发泡材料22，所述限位组件之间还安装有第一激光发射器3、第一接收器5、第二激光发射器4和第二接收器6，所述第一激光发射器3射出的激光与Y轴平行并被第一接收器5接收，所述第二激光发射器4射出的激光与Z轴平行并被第二接收器6接收，激光被高分子硅胶发泡材料22遮挡，所述第一接收器5和所述第二接收器6上形成有阴影区域，所述第一接收器5和所述第二接收器6测量阴影区域间距；所述限位组件包括两组第一限位柱7，所述第一限位柱7与Z轴平行，所述第一限位柱7之间的间隙内穿设有高分子硅胶发泡材料22；所述工作台2上安装有水平组件，所述水平组件包括压轮8和两组固定轮9，所述压轮8设置在所述固定轮9上侧并且呈三角形分布，高分子硅胶发泡材料22设置在所述压轮8和所述固定轮9之间的间隙内，所述压轮8和所述固定轮9轴线与Y轴平行。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市富程威科技股份有限公司 高分子硅胶发泡材料尺寸检测装置
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