申请/专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司

申请日：2022-04-08

公开（公告）日：2024-06-21

公开（公告）号：CN114755558B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R1/04;G01R35/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.21#授权;2022.08.02#实质审查的生效;2022.07.15#公开

摘要：公开了射频芯片的数据补偿方法，方法中，校准射频芯片的射频通路损耗，射频芯片固定在承载板上；矢量网络分析仪校准射频芯片；开始测试后在得到射频芯片少量测试数据后暂停测试，取一部分的测试数据作为原始测试数据基于邻域风险最小化原则的mixup方法进行数据增强；通过增加自变量阶次的方式来提高补偿精度,根据目标值求解相应系数，计算得到真实值的修正公式，将得到的数据误差补偿模型进行误差的精度验证，满足精度则确定多项式，保存结果并在之后的测试中对测试值代入，以还原真实值；对补偿前的测试数据也代入多项式求解，根据补偿后的数值重新分析测试数据的良率，输出补偿前后的良率对比。

主权项：1.一种射频芯片的数据补偿方法，其特征在于，其包括以下步骤：校准射频芯片的射频测试通路损耗，其中，射频芯片用夹具固定在承载板上，所述承载板上包括REF端口、RFIN端口和RFOUT端口，功率计连接所述REF端口和RFIN端口的线缆，产生一定频率的射频信号的信号发生与分析模块分别连接REF端口、RFIN端口和RFOUT端口线缆另一端形成第一通路、第二通路和第三通路，根据功率计的读数校准第一通路的第一线路损耗和第二通路的第二线路损耗；RFOUT端口接到所述射频信号，功率计连接RFOUT端口线缆另一端以校准第三通路的第三线路损耗；矢量网络分析仪校准射频芯片，其中，矢量网络分析仪的双端口依次连接短路、开路、匹配负载运行校准程序得到矢量网络分析仪的校准值；开始测试后在得到射频芯片少量测试数据后暂停测试，所述测试数据作为原始测试数据基于邻域风险最小化原则的mixup方法进行数据增强，其中，yn＝λyi+1-λyj，yn为数据增强的数据向量，维数是需要补偿的测试项数，yi和yj为原始测试数据中任意抽取的两个不同的数据向量，λ～Betaα，β，应用时，β＝α，α∈0,+∞，所述数据向量添加指定信噪比的高斯白噪声来构建样本数据；用最小二乘方法的多项式根据实际测量值和预期目标值进行拟合，自变量为测量值，因变量为预期目标值；通过增加自变量阶次的方式来提高补偿精度，数据误差补偿模型为y＝a1x+a2x2+…+amxm，y是所述预期目标值，x是所述实际测量值，a是常数参数，通过最小二乘法多项式拟合计算出，根据预期目标值求解相应系数，计算得到真实值的修正公式，真实值是指芯片实际输出的数值，将得到的数据误差补偿模型进行误差的精度验证，满足精度则确定所述多项式，保存结果并在之后的测试中对测试值代入，以还原真实值；对补偿前的测试数据代入所述多项式求解，根据补偿后的数值重新分析所述测试数据的良率，输出补偿前后的良率对比。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 广东利扬芯片测试股份有限公司 射频芯片的数据补偿方法

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