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晶体对称性及能带路径确定方法及装置 

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申请/专利权人:北京市计算中心有限公司

摘要:本发明提供一种晶体对称性及能带路径确定方法及装置,其中,该方法包括:基于目标晶体的结构参数,确定所述目标晶体的标准晶体学晶胞;获取所述标准晶体学晶胞对应的初基元胞;基于所述初基元胞,确定目标晶体的点群。本发明实施例提供的晶体对称性及能带路径确定方法及装置,基于群表示理论,确定周期性材料所属的晶体点群,能更高效、准确地确定晶体的对称性,从而能在晶体的对称性的基础上,更高效、完整地确定高对称性的k点并连接形成标准化能带路径,能避免k点缺失,获得的能带路径能够完整地能够表示电子结构信息,避免因k点缺失和能带路径的不完善引起的能带结构的误判。

主权项:1.一种晶体对称性及能带路径确定方法,其特征在于,包括:基于目标晶体的结构参数,确定所述目标晶体的标准晶体学晶胞;获取所述标准晶体学晶胞对应的初基元胞;基于所述初基元胞,确定目标晶体的点群;所述基于目标晶体的结构参数,确定所述目标晶体的标准晶体学晶胞,具体包括:基于目标晶体的结构参数,确定所述目标晶体的Bravais格子类型,并基于最小晶格矢量,获取所述标准晶体学晶胞;所述获取所述标准晶体学晶胞对应的初基元胞之后,还包括:基于所述初基元胞,获取所述初基元胞对应的能带路径;所述基于所述初基元胞,获取所述初基元胞对应的能带路径,具体包括:基于所述目标晶体的Bravais格子类型,确定k点及连接所述k点的所述能带路径。

全文数据:

权利要求:

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