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申请/专利权人：厦门特仪科技有限公司
摘要：本发明公开了一种液晶屏Mura缺陷检测方法，采集液晶屏检测图像P，并进行以下步骤：S1.产品定位及预处理,将待检测图像P进行处理，得到每个产品的定位区域，以及每个产品的边缘区域；将待检测图像P进行颜色通道区分，通过颜色通道定位产品色基底；S2.进行以下缺陷检测：a.HSV通道检测；b.线性拟合检测，c.灰度检测；S3.输出步骤S2的所有缺陷；若不存在步骤S2中的所有缺陷，则判定液晶屏无Mura缺陷。本发明可对液晶屏的Mura缺陷进行检测，且可以适用规则的液晶屏和不规则形状的液晶屏，识别效率和准确率高。
主权项：1.一种液晶屏Mura缺陷检测方法，其特征在于，采集液晶屏待检测图像P，并进行以下步骤：S1.产品定位及预处理将液晶屏的待检测图像P进行处理，区分定位每个产品的图像，得到每个产品的定位区域，根据每个产品定位区域的外轮廓，得到每个产品的边缘区域；将待检测图像P进行颜色通道区分，通过颜色通道定位产品色基底；S2.进行以下缺陷检测：a.HSV通道检测预设不同色基底下色调值H、饱和度S和亮度V不同的阈值范围，将待检测图像P转化成HSV通道，分别判定待检测区域图像P的色调值H、饱和度S和亮度V是否落入阈值范围，若落入阈值范围，则判定液晶屏存在Mura缺陷；b.线性拟合检测将待检测图像P的其中一种颜色通道的图像进行处理取出缺陷范围，去除非定位区域内的缺陷，提取出缺陷点，对缺陷点进行线性拟合，若缺陷点面积大于拟合后的直线面积的设定百分比则判定存在Mura缺陷；c.灰度检测将待检测图像P的其中一种颜色通道的图像进行处理，提取出像素点，将提取出像素点进行灰度处理，若其灰度值与纵向上多个像素点的灰度平均值的差值在设定阈值范围内，则进行缺陷标定；根据步骤S1定位的产品的边缘区域，在缺陷标定区域内剔除非边缘且小于预设像素的点；余下的边缘区域的点所连成区域判定为Mura缺陷；S3.输出步骤S2中检测到的所有Mura缺陷；若不存在步骤S2中的所有缺陷，则判定液晶屏无Mura缺陷。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 厦门特仪科技有限公司 一种液晶屏Mura缺陷检测方法
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