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集成电路布局锐角修复方法及系统 

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申请/专利权人:深圳市芯程科技有限公司

摘要:本发明涉及集成电路技术领域,尤其涉及一种集成电路布局锐角修复方法及系统。该方法包括以下步骤:获取集成电路布局图,并对集成电路布局图进行锐角缺陷分析,从而获得锐角缺陷数据;根据集成电路布局图进行布局特性分析,从而获得布局特性数据;基于布局特性数据以及锐角缺陷数据构建锐角缺陷数学模型;根据布局特性数据对锐角缺陷数学模型进行第一布局优化,从而获得优化集成电路布局图;对优化集成电路布局图以及集成电路布局图进行性能衰减值计算,从而获得性能衰减值;根据性能衰减值对优化集成电路布局图进行第二布局优化,从而获得最优集成电路布局图。本发明基于数据挖掘能够有效减少锐角缺陷带来的不利影响。

主权项:1.一种集成电路布局锐角修复方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:获取集成电路布局图,并对集成电路布局图进行锐角缺陷分析,从而获得锐角缺陷数据;步骤S2:根据集成电路布局图进行布局特性分析,从而获得布局特性数据;步骤S3:基于布局特性数据以及锐角缺陷数据构建锐角缺陷数学模型;步骤S4:根据布局特性数据对锐角缺陷数学模型进行第一布局优化,从而获得优化集成电路布局图;步骤S5:对优化集成电路布局图以及集成电路布局图进行性能衰减值计算,从而获得性能衰减值;步骤S6:根据性能衰减值对优化集成电路布局图进行第二布局优化,从而获得最优集成电路布局图。

全文数据:

权利要求:

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