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申请/专利权人：北京无线电计量测试研究所

摘要：本申请公开了一种基于EMIF总线和FPGA的采样系统及采样方法，系统包括：控制器MCU、FPGA，以及至少两个ADC芯片；MCU与FPGA之间通过EMIF总线通信，包括：采样过程配置模块、采样启停模块、更新完毕通知模块、数据查询模块，其中：采样过程配置模块完成采样过程的配置信息的通信；采样启停模块完成发送开启采样流程信息和关闭采样流程信息；更新完毕通知模块完成传递数据更新完毕的信息；数据查询模块完成发送查询采样值的信息；FPGA与ADC芯片之间通过SPI总线通信。本申请通过程序控制，可控制实现不同的采样通道的不同采样速率。采样系统工作模式可通过程序配置，可以通用于不同的应用场景。

主权项：1.一种基于EMIF总线和FPGA的采样系统，其特征在于，包括：控制器MCU、FPGA，以及至少两个ADC芯片；MCU与FPGA之间通过EMIF总线通信，EMIF通信协议包括但不限于以下模块：采样过程配置模块、采样启停模块、更新完毕通知模块、数据查询模块，其中：所述采样过程配置模块完成系统控制器MCU对FPGA关于采样过程的配置信息的通信；所述采样启停模块完成系统控制器MCU对FPGA控制开启采样流程信息和关闭采样流程信息；当MCU通过EMIF总线发送开启采样流程信息时，FPGA开始控制ADC芯片进行周期采样流程，当MCU通过EMIF总线发送关闭采样流程信息时，FPGA开始控制ADC芯片停止周期采样流程，并清空内部的采样数据以及将相关控制变量恢复至初始值；所述更新完毕通知模块完成FPGA向系统控制器MCU传递数据更新完毕的信息，FPGA完成一轮采样过程后，继续更新所述更新完毕的信息，当MCU查询到有效的更新完毕的信息后，开始回读采样值；数据查询模块完成MCU向FPGA查询采样值的信息，当MCU通过EMIF总线发送查询采样值的信息时，FPGA按协议向MCU发送相应的采样值；FPGA与ADC芯片之间通过SPI总线通信，FPGA通过SPI总线中的片选信号选择每次通信需要控制的ADC芯片，SPI总线通信协议包括但不限于以下模块：ADC配置模块、数据回读模块，其中：所述ADC配置模块完成FPGA接到开启采样流程信息后对系统中所有ADC芯片的初始化配置；所述数据回读模块完成FPGA对ADC芯片写入配置字触发采样、回读采样结果的操作，回读的采样结果放入第一存储空间中。

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权利要求：

百度查询： 北京无线电计量测试研究所 一种基于EMIF总线和FPGA的采样系统及采样方法