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一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统 

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申请/专利权人:深圳市星汉激光科技股份有限公司

摘要:本发明提供了一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统,涉及半导体激光技术领域;该系统包括:待测试的半导体激光器、光功率计和光纤合束分束模块;所述光纤合束分束模块包括具有多个输入分支的一端及多个输出分支的另一端;所述激光器和所述光功率计分别熔接在一端的两个端口,另一端的两个端口相互熔接,形成回返光路;可直观且准确的测得半导体激光器的耐回返光阈值,对半导体激光器的设计与制造具有重要的参考意义。

主权项:1.一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统,其特征在于:包括:待测试的半导体激光器、光功率计和光纤合束分束模块;所述光纤合束分束模块包括具有多个输入分支的一端及具有多个输出分支的另一端;所述激光器和所述光功率计分别熔接在一端的两个端口,另一端的两个端口相互熔接,形成回返光路;所述激光器发出的激光经所述光纤合束分束模块分路后返回至所述激光器和所述光功率计;所述光功率计接收的激光功率与所述激光器接收的回返光功率相同,通过所述光功率计的读数检测所述激光器接收的回返光功率;其中,所述光纤合束分束模块包括两个合束分束单元,分别为第一合束分束单元和第二合束分束单元;所述第一合束分束单元包括具有X1个输入分支的第一端和具有Y1个输出分支的第二端;所述第二合束分束单元包括具有X2个输入分支的第一端和具有Y2个输出分支的第二端;X1和Y2均为大于或者等于2的整数,Y1和X2均为大于或者等于1的整数;所述激光器和所述光功率计分别熔接在所述第一合束分束单元的第一端的两个端口,第一合束分束单元的第二端的一个端口与所述第二合束分束单元第一端的一个端口熔接;所述第二合束分束单元的第二端的两个端口相互熔接,组成回返光路;所述激光器发出的激光经所述第一合束分束单元和所述第二合束分束单元后被均分为多路激光束,其中两路激光束经所述第二合束分束单元和第一合束分束单元后返回至所述激光器和所述光功率计;所述光功率计接收的激光功率与所述激光器接收的回返光功率相同,通过所述光功率计的读数可得知所述激光器接收的回返光功率,所述回返光功率为2XX1X2Y1Y2,其中X为激光器的输出功率。

全文数据:

权利要求:

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