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申请/专利权人：上海交通大学
摘要：本发明涉及一种基于YSZ:Eu磷光材料的最高经历温度测试方法及其系统与应用，测试方法包括：在试件表面喷涂形成YSZ:Eu磷光材料层，再置于热环境中，取出后，在紫外光激发作用下，YSZ:Eu磷光材料层发出磷光信号，将波长580±10nm处的磷光光强度与波长610±10nm处的磷光光强度作比，得到磷光光强比，根据磷光光强比以及光强比温度标准曲线，即可获得试件在热环境中所经历的最高温度。与现有技术相比，本发明利用高温加热过程对YSZ:Eu磷光材料的晶体结构以及发光性质造成的不可逆转变，从而记录材料所经历的最高温度，并具有测温范围广900‑1300℃等优点，对隔热、耐热性能测试均具有较好的应用前景。
主权项：1.一种基于YSZ:Eu磷光材料的最高经历温度测试方法，其特征在于，该方法包括：在试件表面喷涂形成YSZ:Eu磷光材料层，再置于热环境中，取出后，在紫外光激发作用下，YSZ:Eu磷光材料层发出磷光信号，将波长580±10nm处的磷光光强度与波长610±10nm处的磷光光强度作比，得到磷光光强比，根据磷光光强比以及光强比温度标准曲线，即可获得试件在热环境中所经历的最高温度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海交通大学 一种基于YSZ:Eu磷光材料的最高经历温度测试方法及其系统与应用
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