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申请/专利权人：中国科学院微电子研究所
摘要：本发明公开了一种面向应用的参数可配置InterlakenIP核测试方法及测试装置，包括以下步骤：针对协议层生成测试向量；将测试向量发送到InterlakenIP核；接收InterlakenIP核发出的数据，与测试向量做对比，生成测试结果；根据测试结果，判断InterlakenIP核在协议层是否正确识别出测试向量。本发明能够基于现场实际应用时灵活的配置测试参数，减少了实际测试时流程步骤遍历的次数和测试的项目。
主权项：1.一种面向应用的参数可配置InterlakenIP核测试方法，其特征在于，包括以下步骤：针对协议层生成测试向量；将所述测试向量发送到InterlakenIP核；接收所述InterlakenIP核发出的数据，与所述测试向量做对比，生成测试结果；根据所述测试结果，判断所述InterlakenIP核在协议层是否正确识别出所述测试向量。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院微电子研究所 面向应用的参数可配置Interlaken IP核测试方法及测试装置
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