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申请/专利权人：柯尼卡美能达株式会社
申请日：2023-05-19
公开（公告）日：2025-01-17
公开（公告）号：CN119325552A
专利技术分类：...利用分开的检测器测试两个或更多的谱带[2006.01]
专利摘要：本发明涉及数据处理装置、数据处理系统、数据处理方法以及程序。数据处理装置3具备：接收单元35，从能够测量测量对象物4的图像的每个像素的分光数据的高光谱设备2接收测量数据；检测单元36，检测接收到的测量数据的缺损的产生；以及文件生成单元37，在检测出测量数据的缺损的产生的情况下，生成在缺损的产生部位嵌入有能够确定缺损数据的确定值的测量数据文件。
专利权项：1.一种数据处理装置，其中，具备：接收单元，从能够测量测量对象物的二维的分光数据的高光谱设备接收测量数据；检测单元，检测由所述接收单元接收到的测量数据的缺损的产生；以及文件生成单元，在由所述检测单元检测出测量数据的缺损的产生的情况下，生成在缺损的产生部位嵌入有能够确定缺损数据的确定值的测量数据文件。
百度查询： 柯尼卡美能达株式会社 数据处理装置、数据处理系统、数据处理方法以及程序
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