恭喜紫旸升光电科技(淄博)有限公司钟明达获国家专利权
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龙图腾网恭喜紫旸升光电科技(淄博)有限公司申请的专利一种Micro LED的检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115047306B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210643377.3,技术领域涉及:G01R31/26;该发明授权一种Micro LED的检测方法是由钟明达设计研发完成,并于2022-06-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种Micro LED的检测方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种MicroLED的检测方法,包括以下步骤:对Si‑COMS驱动基板进行加工,得到暂态驱动基板;对氮化镓外延片晶圆进行加工,得到共阴极架构MicroLED阵列基板;实现暂态驱动基板与共阴极架构MicroLED阵列基板的贴合;暂态驱动基板给电,进行基于自动光学检查的视觉检测;测试完毕,分离暂态驱动基板及共阴极架构MicroLED阵列基板。通过将Si‑COMS驱动基板的阳极接触点用金属材料连接形成共阳极结构,搭配原有的共阴架构再与LED阵列贴合,经过Si‑COMS驱动基板画素阵列均匀给电,确保LED阵列上的每颗MicroLED接收到均匀的电流,便可得到正确的LED发光数据。
本发明授权一种Micro LED的检测方法在权利要求书中公布了:1.一种MicroLED的检测方法,其特征在于,该检测方法包括以下步骤: S1、对预先备置的Si-COMS驱动基板进行加工,得到暂态驱动基板; S2、对预先备置的氮化镓外延片晶圆进行加工,得到共阴极架构MicroLED阵列基板; S3、移动晶圆载台,实现暂态驱动基板与共阴极架构MicroLED阵列基板的贴合; S4、暂态驱动基板给电,进行基于自动光学检查的视觉检测; S5、测试完毕,分离暂态驱动基板及共阴极架构MicroLED阵列基板。
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