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龙图腾网恭喜象帝先计算技术(重庆)有限公司申请的专利芯片老化分析方法、装置、电子设备和计算机存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117634376B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210948302.6，技术领域涉及：G06F30/3315；该发明授权芯片老化分析方法、装置、电子设备和计算机存储介质是由许谷涵设计研发完成，并于2022-08-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片老化分析方法、装置、电子设备和计算机存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供一种芯片老化分析方法、装置、电子设备和计算机存储介质。该方法包括：基于测试电路进行老化分析测试，获得至少一个时序衰减因子；时序衰减因子用于表征测试芯片在预设工作年限下时钟频率变化系数，不同待测频率段内的时钟频率对应的时序衰减因子不同；在静态时序分析过程中，基于时序衰减因子对测试芯片的时序路径进行时序分析，获得时序分析结果；根据时序分析结果判断时序路径是否存在时序违例。采用本公开的技术方案能够用测试电路等效测试芯片进行老化分析测试，可以降低老化分析成本；在设计阶段进行老化分析，不仅可以提前发现老化问题，还可以降低解决老化问题的成本。

本发明授权芯片老化分析方法、装置、电子设备和计算机存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片老化分析方法，所述方法包括： 基于测试电路进行老化分析测试，获得至少一个时序衰减因子；所述时序衰减因子用于表征测试芯片在预设工作年限下时钟频率变化系数，不同待测频率段内的所述时钟频率对应的所述时序衰减因子不同；其中，所述测试电路包括预测单元、电容和连接单元，所述预测单元和连接单元之间首尾串联，所述电容和所述预测单元的数量相同，所述电容和所述预测单元一一对应连接；所述预测单元包括第一反相器、与非门、或非门和第二反相器，所述第一反相器的输出端与所述与非门的输入端连接，所述与非门的输出端与所述或非门的输入端连接，所述或非门的输出端与所述第二反相器的输入端连接，所述第一反相器的输入端与其它预测单元中的一个连接，或所述第一反相器的输入端与所述连接单元连接；所述第二反相器的输出端与其它预测单元中的一个连接，或所述第二反相器的输出端与所述连接单元连接，所述第二反相器的输出端还与对应的电容连接；所述连接单元包括第三反相器，所述第三反相器与所述预测单元和所述电容均连接； 在静态时序分析过程中，基于所述时序衰减因子对所述测试芯片的时序路径进行时序分析，获得时序分析结果； 根据所述时序分析结果判断所述时序路径是否存在时序违例。

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